Stoichiometry Calculation in BaxSr1- xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling

J. Reséndiz-Muñoz, J. L. Fernández-Muñoz, M. A. Corona-Rivera, M. Zapata-Torres, A. Márquez-Herrera, M. Meléndez-Lira, F. Caballero-Briones, F. Chale-Lara, O. Zelaya-Ángel

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

4 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Stoichiometry Calculation in BaxSr1- xTiO3 Solid Solution Thin Films, Prepared by RF Cosputtering, Using X-Ray Diffraction Peak Positions and Boltzmann Sigmoidal Modelling'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales

Química