SiGe HBT featuringfr- > 600GHz at cryogenic temperature

N. Zerounian, E. Ramirez Garcia, F. Aniel, P. Chevalier, B. Geynet, A. Chantre

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

9 Citas (Scopus)

Resumen

A comparison of electrical performances of state-of-the-art SiGe heterojunction bipolar transistors at low temperature is presented. The performances increase results from the diminution of transit times thanks to the rise of non-stationary transport, the relative increase of the transconductance with the reduction of self-heating effects, and the decrease of access resistances.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaECS Transactions - SiGe, Ge, and Related Compounds 3
Subtítulo de la publicación alojadaMaterials, Processing, and Devices
EditorialElectrochemical Society Inc.
Páginas1069-1077
Número de páginas9
Edición10
ISBN (versión impresa)9781566776561
DOI
EstadoPublicada - 2008
Publicado de forma externa
Evento3rd SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing and Devices Symposium - 214th ECS Meeting - Honolulu, HI, Estados Unidos
Duración: 12 oct. 200817 oct. 2008

Serie de la publicación

NombreECS Transactions
Número10
Volumen16
ISSN (versión impresa)1938-5862
ISSN (versión digital)1938-6737

Conferencia

Conferencia3rd SiGe, Ge, and Related Compounds: Materials, Processing and Devices Symposium - 214th ECS Meeting
País/TerritorioEstados Unidos
CiudadHonolulu, HI
Período12/10/0817/10/08

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'SiGe HBT featuringfr- > 600GHz at cryogenic temperature'. En conjunto forman una huella única.

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