Raman scattering by phonons in heavily doped semiconductors

G. González de la Cruz, G. Contreras-Puente, F. L. Castillo-Alvarado, C. Mejía-García, A. Compaan

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Resumen

We present in this work experimental results of the Full Width at Half Maximum (FWHM) and frequency shift of the Raman phonon in heavily doped Ge:P, as a function of the temperature. Phonon confinement is found due to the disorder induced by the impurities in the crystal.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)927-929
Número de páginas3
PublicaciónSolid State Communications
Volumen82
N.º12
DOI
EstadoPublicada - jun. 1992

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Raman scattering by phonons in heavily doped semiconductors'. En conjunto forman una huella única.

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