Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Localization of defects in InAs QD symmetric InGaAs/GaAs DWELL structures'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Localization of defects in InAs QD symmetric InGaAs/GaAs DWELL structures
J. L. Casas Espínola, T. V. Torchynska, E. Velasquez Lozada, L. V. Shcherbyna, A. Stintz, R. Peña Sierra
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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(Scopus)