Interferómetro panorámico de patrones manchados por láser con espejo convexo único

Juan Bautista Hurtado Ramos; José Joel González Barbosa; Francisco Javier Ornelas Rodríguez; Joaquín Salas Rodríguez

Interferómetro panorámico de patrones manchados por láser con espejo convexo único

Juan Bautista Hurtado Ramos (Inventor), José Joel González Barbosa (Inventor), Francisco Javier Ornelas Rodríguez (Inventor), Joaquín Salas Rodríguez (Inventor)

Centro de Investigación en Ciencia Aplicada y Tecnología Avanzada (CICATA), Unidad Querétaro

Producción científica: Patente

Resumen

La presente invención se refiere a un interferómetro panorámico de patrones manchados, que es un dispositivo que produce interferogramas de patrones manchados. La característica distintiva de la presente invención es la posibilidad de detectar desplazamientos en la porción interna de objetos cilíndricos en imágenes de campo completo, aunque esto pueda aplicarse en la porción interna de objetos no cilíndricos. Dicho interferómetro se basa en un sistema de visión panorámica que utiliza un espejo convexo para iluminar la zona de detección y capturar los interferogramas.

Idioma original	Español (México)
Número de patente	MX2011013957A
Fecha de prioridad	16/12/12
Fecha de introducción	16/12/11
Estado	Publicada - 17 jun. 2013

Palabras clave

ANALISIS DE IMAGENES
INTERFEROMETRO
PANORAMICO
PATRONES
LASÉR
CONVEXO

Otros archivos y enlaces

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T1 - Interferómetro panorámico de patrones manchados por láser con espejo convexo único

AU - Hurtado Ramos, Juan Bautista

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AU - Salas Rodríguez, Joaquín

PY - 2013/6/17

Y1 - 2013/6/17

N2 - La presente invención se refiere a un interferómetro panorámico de patrones manchados, que es un dispositivo que produce interferogramas de patrones manchados. La característica distintiva de la presente invención es la posibilidad de detectar desplazamientos en la porción interna de objetos cilíndricos en imágenes de campo completo, aunque esto pueda aplicarse en la porción interna de objetos no cilíndricos. Dicho interferómetro se basa en un sistema de visión panorámica que utiliza un espejo convexo para iluminar la zona de detección y capturar los interferogramas.

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