Abstract
La presente invención se refiere a un interferómetro panorámico de patrones manchados, que es un dispositivo que produce interferogramas de patrones manchados. La característica distintiva de la presente invención es la posibilidad de detectar desplazamientos en la porción interna de objetos cilíndricos en imágenes de campo completo, aunque esto pueda aplicarse en la porción interna de objetos no cilíndricos. Dicho interferómetro se basa en un sistema de visión panorámica que utiliza un espejo convexo para iluminar la zona de detección y capturar los interferogramas.
| Original language | Spanish (Mexico) |
|---|---|
| Patent number | MX2011013957A |
| Priority date | 16/12/12 |
| Filing date | 16/12/11 |
| State | Published - 17 Jun 2013 |