Emission and structure investigations of Si nano-crystals embedded in amorphous silicon

Título traducido de la contribución: Investigaciones de emisión y estructura de nanocristales de Si incrustados en silicio amorfo

A. Vivas Hernandez, T. V. Torchynska, A. L.Quintos Vazquez, Yasuhiro Matsumoto, L. Khomenkova, L. Shcherbina

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Resumen

The influence of oxygen flow at the hot-wire-CVD process on light-emission and structural properties of Si nano-crystallites embedded in amorphous silicon has been investigated. It was shown that increasing of an oxygen flow is accompanied by the Si nanocrystallite size variation and by the appearance of some new photoluminescence bands. Using of X-ray diffraction and photoluminescence methods the dependence of photoluminescence properties on the size of Si nanocrystallites was shown. The nature of light emission centers is discussed as well.

Título traducido de la contribuciónInvestigaciones de emisión y estructura de nanocristales de Si incrustados en silicio amorfo
Idioma originalInglés
Número de artículo243
Páginas (desde-hasta)1231-1235
Número de páginas5
PublicaciónJournal of Physics: Conference Series
Volumen61
N.º1
DOI
EstadoPublicada - 1 abr. 2007

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Investigaciones de emisión y estructura de nanocristales de Si incrustados en silicio amorfo'. En conjunto forman una huella única.

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