Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Electrical characterization of sputtered Ge:Sb:Te films using impedance measurements'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
Electrical characterization of sputtered Ge:Sb:Te films using impedance measurements
E. Morales-Sánchez, E. F. Prokhorov, A. Mendoza-Galván, J. González-Hernández
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)