Determination of the barrier height of Pt - Ir Schottky nano-contacts on Al-doped ZnO thin films by conductive Atomic Force Microscopy

L. J. Eduardo-River, Narcizo Muñoz-Aguirre, G. Juliana Gutiérrez-Paredes, P. A. Tamayo-Meza, Alejandro A. Zapata, L. Martínez-Pérez

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Determination of the barrier height of Pt - Ir Schottky nano-contacts on Al-doped ZnO thin films by conductive Atomic Force Microscopy'. En conjunto forman una huella única.

Física y astronomía