Huella
Profundice en los temas de investigación de 'ATOMIC FORCE MICROSCOPY PRINCIPLES AND RECENT STUDIES OF IMAGING AND NANOMECHANICAL PROPERTIES IN BACTERIA'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
ATOMIC FORCE MICROSCOPY PRINCIPLES AND RECENT STUDIES OF IMAGING AND NANOMECHANICAL PROPERTIES IN BACTERIA
H. H. Torres-Ventura, J. J. Chanona-Pérez, L. Dorantes-Álvarez, J. V. Méndez-Méndez, B. Arredondo-Tamayo, P. I. Cauich-Sánchez, Ana Elena Jiménez-Carmona
Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congreso › Capítulo › revisión exhaustiva
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Cita
(Scopus)