Apparent base resistance decomposition by means of small-signal and high-frequency noise analyses of submicron InP/InGaAs HBTs

E. Ramirez-Garcia, F. P. Aniel, M. A. Enciso-Aguilar, F. Zerounian

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

4 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Apparent base resistance decomposition by means of small-signal and high-frequency noise analyses of submicron InP/InGaAs HBTs'. En conjunto forman una huella única.

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