Threshold voltage reliability in flexible amorphous In-Ga-ZnO TFTs under simultaneous electrical and mechanical stress

Pablo Toledo, Martha Leticia Hernandez-Pichardo, Salvador Ivan Garduño, Jose Luis Hernandez-Lopez, Francisco Hernandez-Cuevas, Norberto Hernandez-Como

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Threshold voltage reliability in flexible amorphous In-Ga-ZnO TFTs under simultaneous electrical and mechanical stress'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales

Química