Structural characterization of ZnTe grown by atomic-layer-deposition regime on GaAs and GaSb (100) oriented substrates1

Roberto Saúl Castillo-Ojeda, Joel Díaz-Reyes, Miguel Galván-Arellano, Francisco De Anda-Salazar, Jorge Indalecio Contreras-Rascon, María De la Cruz Peralta-Clara, Julieta Salomé Veloz-Rendón

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Structural characterization of ZnTe grown by atomic-layer-deposition regime on GaAs and GaSb (100) oriented substrates1'. En conjunto forman una huella única.

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