Structural characterization of microcrystalline-amorphous hydrogenated silicon samples prepared by PECVD method

A. Orduña-Díaz, M. Rojas-López, V. L. Gayou, R. Delgado-Macuil, V. H. Méndez-García, R. E. Pérez-Blanco, E. Rosendo

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de la conferenciarevisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Structural characterization of microcrystalline-amorphous hydrogenated silicon samples prepared by PECVD method'. En conjunto forman una huella única.

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