SIOx related photoluminescence excitation in porous silicon

T. V. Torchinskaya, N. E. Korsunskaya, B. R. Dzumaev, M. K. Sheinkman

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de la conferenciarevisión exhaustiva

Resumen

Using PL, PLE, secondary ion mass spectroscopy (SIMS) and EPR investigations we show in this paper that two luminescence bands with different PL excitation spectra exist on the surface of silicon wires in PS.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)159-165
Número de páginas7
PublicaciónMaterials Research Society Symposium - Proceedings
Volumen405
EstadoPublicada - 1996
Publicado de forma externa
EventoProceedings of the 1995 MRS Fall Meeting - Boston, MA, USA
Duración: 27 nov. 19951 dic. 1995

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'SIOx related photoluminescence excitation in porous silicon'. En conjunto forman una huella única.

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