Raman scattering, emission and crystalline phase evolutions in Nd-doped Si-rich HfO2:N films

Título traducido de la contribución: Dispersión Raman, emisión y evolución de la fase cristalina en películas de HfO 2 :N ricas en Si y dopadas con Nd

T. Torchynska, L. G.Vega Macotela, G. Polupan, O. Melnichuk, L. Khomenkova, F. Gourbilleau

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Dispersión Raman, emisión y evolución de la fase cristalina en películas de HfO 2 :N ricas en Si y dopadas con Nd'. En conjunto forman una huella única.

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