Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Raman scattering by intervalley carrier-density fluctuations in n-type Si: Intervalley and intravalley mechanisms'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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Raman scattering by intervalley carrier-density fluctuations in n-type Si: Intervalley and intravalley mechanisms
G. Contreras, A. K. Sood, M. Cardona
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)