Procedure to derive analytical models for microwave noise performances of Si/SiGe:C and InP/InGaAs heterojunction bipolar transistors

E. Ramirez-Garcia, F. P. Aniel, M. A. Enciso-Aguilar, N. Zerounian

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Procedure to derive analytical models for microwave noise performances of Si/SiGe:C and InP/InGaAs heterojunction bipolar transistors'. En conjunto forman una huella única.

Química

Física y astronomía

Ingeniería y ciencia de los materiales