Physical property characterization of Cu x(1,2) o nanofilms grown on (100) silicon by thermal copper oxidation

Joel Díaz-Reyes, José Eladio Flores-Mena, Roberto Saúl Castillo-Ojeda, José M. Gutiérrez-Arias, María Montserrat Morín-Castillo

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Physical property characterization of Cu x(1,2) o nanofilms grown on (100) silicon by thermal copper oxidation'. En conjunto forman una huella única.

Ingeniería y ciencia de los materiales