Incorporating prior knowledge for atomic resolution tomography

K. J. Batenburg, J. R. Jinschek, H. A. Calderon, C. Kisielowski

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

3 Citas (Scopus)

Idioma original	Inglés
Páginas (desde-hasta)	1572-1573
Número de páginas	2
Publicación	Microscopy and Microanalysis
Volumen	12
N.º	SUPPL. 2
DOI	https://doi.org/10.1017/S1431927606065639
Estado	Publicada - ago. 2006

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TY - JOUR

T1 - Incorporating prior knowledge for atomic resolution tomography

AU - Batenburg, K. J.

AU - Jinschek, J. R.

AU - Calderon, H. A.

AU - Kisielowski, C.

PY - 2006/8

Y1 - 2006/8

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=33750855791&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1017/S1431927606065639

DO - 10.1017/S1431927606065639

M3 - Artículo

AN - SCOPUS:33750855791

SN - 1431-9276

VL - 12

SP - 1572

EP - 1573

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

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