Huella
Profundice en los temas de investigación de 'High resolution non-destructive evaluation of defects using artificial neural networks and wavelets'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
High resolution non-destructive evaluation of defects using artificial neural networks and wavelets
S. J. Farley, J. F. Durodola, N. A. Fellows, L. H. Hernández-Gómez
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)