Huella
Profundice en los temas de investigación de 'EIS characterization of tantalum and niobium oxide films based on a modification of the point defect model'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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EIS characterization of tantalum and niobium oxide films based on a modification of the point defect model
Román Cabrera-Sierra, José Manuel Hallen, Jorge Vazquez-Arenas, Gerardo Vázquez, Ignacio González
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)