Comparison of parameter variation of InAs quantum dots embedded in GaAs/Al0.30Ga0.70As structures with different capping/buffer quantum wells at annealing
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
Huella
Profundice en los temas de investigación de 'Comparison of parameter variation of InAs quantum dots embedded in GaAs/Al0.30Ga0.70As structures with different capping/buffer quantum wells at annealing'. En conjunto forman una huella única.