CIGS nanoparticles observed in TEM low dose condition. atomic resolution and beam effects

I. Santana-García; C. Kisielowski; P. Specht; H. A. Calderon

doi:10.1017/S1431927614002918

CIGS nanoparticles observed in TEM low dose condition. atomic resolution and beam effects

Título traducido de la contribución: Nanopartículas de CIGS observadas en condiciones de dosis baja de TEM. resolución atómica y efectos de haz

I. Santana-García, C. Kisielowski, P. Specht, H. A. Calderon

Escuela Superior de Física y Matemáticas (ESFM)

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo de la conferencia › revisión exhaustiva

Título traducido de la contribución	Nanopartículas de CIGS observadas en condiciones de dosis baja de TEM. resolución atómica y efectos de haz
Idioma original	Inglés
Páginas (desde-hasta)	238-239
Número de páginas	2
Publicación	Microscopy and Microanalysis
Volumen	20
N.º	3
DOI	https://doi.org/10.1017/S1431927614002918
Estado	Publicada - 1 ago. 2014
Evento	Microscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, Estados Unidos Duración: 3 ago. 2014 → 7 ago. 2014

Acceder al documento

10.1017/S1431927614002918

Otros archivos y enlaces

Enlace a la publicación en Scopus

Citar esto

@article{d3a78617046c454e83a736e9174ad8fe,

title = "CIGS nanoparticles observed in TEM low dose condition. atomic resolution and beam effects",

author = "I. Santana-Garc{\'i}a and C. Kisielowski and P. Specht and Calderon, {H. A.}",

year = "2014",

month = aug,

day = "1",

doi = "10.1017/S1431927614002918",

language = "Ingl{\'e}s",

volume = "20",

pages = "238--239",

journal = "Microscopy and Microanalysis",

issn = "1431-9276",

number = "3",

note = "Microscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 ; Conference date: 03-08-2014 Through 07-08-2014",

}

TY - JOUR

T1 - CIGS nanoparticles observed in TEM low dose condition. atomic resolution and beam effects

AU - Santana-García, I.

AU - Kisielowski, C.

AU - Specht, P.

AU - Calderon, H. A.

PY - 2014/8/1

Y1 - 2014/8/1

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=84927937990&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1017/S1431927614002918

DO - 10.1017/S1431927614002918

M3 - Artículo de la conferencia

AN - SCOPUS:84927937990

SN - 1431-9276

VL - 20

SP - 238

EP - 239

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

IS - 3

T2 - Microscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014

Y2 - 3 August 2014 through 7 August 2014

ER -