Caracterizacio´n por SEM, EDS y micro-Raman de la influencia de la relacio´n molar SiO2/Al2O3 y temperatura de reduccio´n sobre el sistema CuZSM5

F. Cha´vez Rivas, I. Rodri´guez Iznaga, V. Petranovskii

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Caracterizacio´n por SEM, EDS y micro-Raman de la influencia de la relacio´n molar SiO2/Al2O3 y temperatura de reduccio´n sobre el sistema CuZSM5'. En conjunto forman una huella única.

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