Atomic resolution electron tomography based on discrete mathematics

Título traducido de la contribución: Tomografía electrónica de resolución atómica basada en matemáticas discretas

Joerg R. Jinschek, K. J. Batenburg, H. A. Calderon, R. Kilaas, V. Radmilovic, C. Kisielowski

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

2 Citas (Scopus)

Título traducido de la contribución	Tomografía electrónica de resolución atómica basada en matemáticas discretas
Idioma original	Inglés
Páginas (desde-hasta)	1566-1567
Número de páginas	2
Publicación	Microscopy and Microanalysis
Volumen	12
N.º	SUPPL. 2
DOI	https://doi.org/10.1017/S1431927606063720
Estado	Publicada - ago. 2006

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@article{125d9248ea354772b58b11844d98795b,

title = "Atomic resolution electron tomography based on discrete mathematics",

author = "Jinschek, {Joerg R.} and Batenburg, {K. J.} and Calderon, {H. A.} and R. Kilaas and V. Radmilovic and C. Kisielowski",

year = "2006",

month = aug,

doi = "10.1017/S1431927606063720",

language = "Ingl{\'e}s",

volume = "12",

pages = "1566--1567",

journal = "Microscopy and Microanalysis",

issn = "1431-9276",

number = "SUPPL. 2",

}

TY - JOUR

T1 - Atomic resolution electron tomography based on discrete mathematics

AU - Jinschek, Joerg R.

AU - Batenburg, K. J.

AU - Calderon, H. A.

AU - Kilaas, R.

AU - Radmilovic, V.

AU - Kisielowski, C.

PY - 2006/8

Y1 - 2006/8

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=33750849789&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1017/S1431927606063720

DO - 10.1017/S1431927606063720

M3 - Artículo

AN - SCOPUS:33750849789

SN - 1431-9276

VL - 12

SP - 1566

EP - 1567

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

IS - SUPPL. 2

ER -