Analysis of polynomial and geometric conductivity profiles in PML layers: A comparison

M. Benavides-Cruz, M. Álvarez-Cabanillas, M. Enciso-Aguilar, J. Sosa-Pedroza

Producción científica: Capítulo del libro/informe/acta de congresoContribución a la conferenciarevisión exhaustiva

1 Cita (Scopus)

Resumen

This paper reports on a new way to measure reflections for several incidence angles of a TM propagating mode in the FDTD Perfect Matched Layer (PML), employing a Gaussian pulse as a source. Experiment is developed using Polynomial and Geometrical conductivity distributions.

Idioma originalInglés
Título de la publicación alojadaProgress in Electromagnetics Research Symposium 2010, PIERS 2010 Xi'an
EditorialElectromagnetics Academy
Páginas673-677
Número de páginas5
ISBN (versión impresa)9781617827785
EstadoPublicada - 2010
EventoProgress in Electromagnetics Research Symposium 2010, PIERS 2010 Xi'an - Xi'an, China
Duración: 22 mar. 201026 mar. 2010

Serie de la publicación

NombreProgress in Electromagnetics Research Symposium
Volumen1
ISSN (versión impresa)1559-9450

Conferencia

ConferenciaProgress in Electromagnetics Research Symposium 2010, PIERS 2010 Xi'an
País/TerritorioChina
CiudadXi'an
Período22/03/1026/03/10

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Analysis of polynomial and geometric conductivity profiles in PML layers: A comparison'. En conjunto forman una huella única.

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