A scanning transmission x-ray microscope for materials science spectromicroscopy at the advanced light source

T. Warwick, K. Franck, J. B. Kortright, G. Meigs, M. Moronne, S. Myneni, E. Rotenberg, S. Seal, W. F. Steele, H. Ade, A. Garcia, S. Cerasari, J. Denlinger, S. Hayakawa, A. P. Hitchcock, T. Tyliszczak, J. Kikuma, E. G. Rightor, H. J. Shin, B. P. Tonner

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Resumen

Design and performance of a scanning transmission x-ray microscope (STXM) at the Advanced Light Source is described. This instrument makes use of a high brightness undulator beamline and extends the STXM technique to new areas of research. After 2.5 years of development it is now an operational tool for research in polymer science, environmental chemistry, and magnetic materials.

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)2964-2973
Número de páginas10
PublicaciónReview of Scientific Instruments
Volumen69
N.º8
DOI
EstadoPublicada - 1998

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'A scanning transmission x-ray microscope for materials science spectromicroscopy at the advanced light source'. En conjunto forman una huella única.

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