Huella
Profundice en los temas de investigación de 'A neural network approach for locating multiple defects'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
- Ponderación
- Alfabéticamente
A neural network approach for locating multiple defects
S. J. Farley, J. F. Durodola, N. A. Fellows, L. H. Hernández-Gómez
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo de la conferencia › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)