Huella
Profundice en los temas de investigación de 'A compact drain current model for thin-film transistor under bias stress condition'. En conjunto forman una huella única.- Clasificar por
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- Alfabéticamente
A compact drain current model for thin-film transistor under bias stress condition
Rodolfo Garcia, Israel Mejia, Julio Tinoco, Jesus Ezequiel Molinar-Solis, Alejandra Morales, Miguel Aleman, Sergio Sandoval, Manuel A. Quevedo-Lopez
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva
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Citas
(Scopus)