Evolution of Morphology, Structure and Emission in Si-rich HfO2:Nd films with Annealing Times

José Luis Casas Espinola; L Khomenkova; T Torchynska; L Vega; F. Gourbilleau; A. Rivero

Evolution of Morphology, Structure and Emission in Si-rich HfO2:Nd films with Annealing Times

José Luis Casas Espinola, L Khomenkova, T Torchynska, L Vega, F. Gourbilleau, A. Rivero

Escuela Superior de Física y Matemáticas (ESFM)

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Translated title of the contribution	Evolución de la morfología, estructura y emisión en películas de HfO 2: Nd ricas en Si con tiempos de recocido
Original language	English
Article number	012044
Journal	ECS Journal of Solid State Science and Technology
Volume	1723
Issue number	1
State	Published - 18 Mar 2021

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title = "Evolution of Morphology, Structure and Emission in Si-rich HfO2:Nd films with Annealing Times",

keywords = "recocido, espectroscopia de dispersi{\'o}n de energ{\'i}a, {\'o}xidos de hafnio, pulverizaci{\'o}n cat{\'o}dica magnetr{\'o}nica, Morfolog{\'i}a, microscop{\'i}a electr{\'o}nica de barrido, s{\'i}lice, silicio, Difracci{\'o}n de rayos X, Transformaci{\'o}n de fase cristalina, espectroscopia de rayos X de dispersi{\'o}n de energ{\'i}a, Evoluci{\'o}n de las morfolog{\'i}as, M{\'e}todos experimentales, recocido a alta temperatura, atm{\'o}sferas de nitr{\'o}geno, Pulverizaci{\'o}n por magnetr{\'o}n de radiofrecuencia, Rango espectral visible, Estructura cristalina",

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journal = "ECS Journal of Solid State Science and Technology",

issn = "2162-8769",

publisher = "Electrochemical Society, Inc.",

number = "1",

}

TY - JOUR

T1 - Evolution of Morphology, Structure and Emission in Si-rich HfO2:Nd films with Annealing Times

AU - Casas Espinola, José Luis

AU - Khomenkova, L

AU - Torchynska, T

AU - Vega, L

AU - Gourbilleau, F.

AU - Rivero, A.

PY - 2021/3/18

Y1 - 2021/3/18

KW - recocido

KW - espectroscopia de dispersión de energía

KW - óxidos de hafnio

KW - pulverización catódica magnetrónica

KW - Morfología

KW - microscopía electrónica de barrido

KW - sílice

KW - silicio

KW - Difracción de rayos X

KW - Transformación de fase cristalina

KW - espectroscopia de rayos X de dispersión de energía

KW - Evolución de las morfologías

KW - Métodos experimentales

KW - recocido a alta temperatura

KW - atmósferas de nitrógeno

KW - Pulverización por magnetrón de radiofrecuencia

KW - Rango espectral visible

KW - Estructura cristalina

M3 - Artículo

SN - 2162-8769

VL - 1723

JO - ECS Journal of Solid State Science and Technology

JF - ECS Journal of Solid State Science and Technology

IS - 1

M1 - 012044

ER -