Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction

Cesar Augusto Garcia-Isais, Noé Alcalá Ochoa, Javier Cruz-Salgado

Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

Resumen

© 2019 Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers (SPIE). We propose a method to correct the nonlinearities introduced by the projector and camera system in one-shot fringes projection profilometry. It is shown that the gamma value can be calculated with high precision employing Fourier techniques. Fourier and phase shifting phase extraction experiments are carried out to show the applicability of the method.
Idioma originalInglés estadounidense
PublicaciónOptical Engineering
DOI
EstadoPublicada - 1 mar 2019

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction'. En conjunto forman una huella única.

Citar esto