Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction

Cesar Augusto Garcia-Isais, Noé Alcalá Ochoa, Javier Cruz-Salgado

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

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Resumen

We propose a method to correct the nonlinearities introduced by the projector and camera system in one-shot fringes projection profilometry. It is shown that the gamma value can be calculated with high precision employing Fourier techniques. Fourier and phase shifting phase extraction experiments are carried out to show the applicability of the method.

Idioma originalInglés
Número de artículo034104
PublicaciónOptical Engineering
Volumen58
N.º3
DOI
EstadoPublicada - 1 mar. 2019

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction'. En conjunto forman una huella única.

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