Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction

Cesar Augusto Garcia-Isais, Noé Alcalá Ochoa, Javier Cruz-Salgado

    Resultado de la investigación: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

    Resumen

    We propose a method to correct the nonlinearities introduced by the projector and camera system in one-shot fringes projection profilometry. It is shown that the gamma value can be calculated with high precision employing Fourier techniques. Fourier and phase shifting phase extraction experiments are carried out to show the applicability of the method.

    Idioma originalInglés
    Número de artículo034104
    PublicaciónOptical Engineering
    Volumen58
    N.º3
    DOI
    EstadoPublicada - 1 mar 2019

    Huella

    Profundice en los temas de investigación de 'Simultaneous one-shot profilometry and gamma correction'. En conjunto forman una huella única.

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