Silicio poroso: Propiedades electrónicas

M. R. Beltrán, C. Wang, M. Cruz, J. Tagüeña-Martínez

Producción científica: Contribución a una revistaArtículorevisión exhaustiva

Resumen

The electronic properties of porous silicon (p-Si) are studied by means of a supercell model with a tight-binding Hamiltonian and sp3s* atomic orbitals. The pores are modelled as empty columns digged in a crystalline silicon structure, passivated with hydrogens atoms. In this work, the band structure and the density of sates of p-Si are presented for different porosities. The results show that the energy gap increases with porosity, together with a shift of the conduction band minimum towards the Γ point, as a consequence of the quantum confinement.

Idioma originalEspañol
Páginas (desde-hasta)155-157
Número de páginas3
PublicaciónRevista Mexicana de Fisica
Volumen45
N.ºSUPPL. 1
EstadoPublicada - jun. 1999

Palabras clave

  • Electronic properties
  • Porous silicon
  • Tight-binding model

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Silicio poroso: Propiedades electrónicas'. En conjunto forman una huella única.

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