Characterization of sputtered Ge-Sn thin films by high resolution methods

Título traducido de la contribución: Caracterización de películas delgadas de Ge-Sn pulverizadas mediante métodos de alta resolución

H. A. Calderón, M. A. Vidal, Héctor Ladrón De Guevara

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Título traducido de la contribución	Caracterización de películas delgadas de Ge-Sn pulverizadas mediante métodos de alta resolución
Idioma original	Inglés
Páginas (desde-hasta)	712-713
Número de páginas	2
Publicación	Microscopy and Microanalysis
Volumen	12
N.º	SUPPL. 2
DOI	https://doi.org/10.1017/S1431927606064324
Estado	Publicada - ago. 2006

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@article{242d748f0de6456b8750ee08560e7b40,

title = "Characterization of sputtered Ge-Sn thin films by high resolution methods",

author = "Calder{\'o}n, {H. A.} and Vidal, {M. A.} and {De Guevara}, {H{\'e}ctor Ladr{\'o}n}",

year = "2006",

month = aug,

doi = "10.1017/S1431927606064324",

language = "Ingl{\'e}s",

volume = "12",

pages = "712--713",

journal = "Microscopy and Microanalysis",

issn = "1431-9276",

number = "SUPPL. 2",

}

TY - JOUR

T1 - Characterization of sputtered Ge-Sn thin films by high resolution methods

AU - Calderón, H. A.

AU - Vidal, M. A.

AU - De Guevara, Héctor Ladrón

PY - 2006/8

Y1 - 2006/8

UR - http://www.scopus.com/inward/record.url?scp=33750867999&partnerID=8YFLogxK

U2 - 10.1017/S1431927606064324

DO - 10.1017/S1431927606064324

M3 - Artículo

AN - SCOPUS:33750867999

SN - 1431-9276

VL - 12

SP - 712

EP - 713

JO - Microscopy and Microanalysis

JF - Microscopy and Microanalysis

IS - SUPPL. 2

ER -