Idioma original | Inglés |
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Páginas (desde-hasta) | 1138-1139 |
Número de páginas | 2 |
Publicación | Microscopy and Microanalysis |
Volumen | 20 |
N.º | 3 |
DOI | |
Estado | Publicada - 1 ago. 2014 |
Evento | Microscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, Estados Unidos Duración: 3 ago. 2014 → 7 ago. 2014 |
Atomic resolution characterization of Ni base nanoparticles for energy devices
H. A. Calderon, F. Godinez-Salomon, O. Solorza-Feria, P. Specht, C. Kisielowski
Producción científica: Contribución a una revista › Artículo de la conferencia › revisión exhaustiva