Atomic resolution characterization of Ni base nanoparticles for energy devices

H. A. Calderon, F. Godinez-Salomon, O. Solorza-Feria, P. Specht, C. Kisielowski

Producción científica: Contribución a una revistaArtículo de la conferenciarevisión exhaustiva

Idioma originalInglés
Páginas (desde-hasta)1138-1139
Número de páginas2
PublicaciónMicroscopy and Microanalysis
Volumen20
N.º3
DOI
EstadoPublicada - 1 ago. 2014
EventoMicroscopy and Microanalysis 2014, M and M 2014 - Hartford, Estados Unidos
Duración: 3 ago. 20147 ago. 2014

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