Atomic resolution characterization of Ni base nanoparticles for energy devices

H. A. Calderon, F. Godinez-Salomon, O. Solorza-Feria, P. Specht, C. Kisielowski

Resultado de la investigación: Contribución a una conferenciaArtículo

Idioma originalInglés estadounidense
Páginas1138-1139
Número de páginas1024
DOI
EstadoPublicada - 1 ene 2014
EventoMicroscopy and Microanalysis -
Duración: 1 ene 2014 → …

Conferencia

ConferenciaMicroscopy and Microanalysis
Período1/01/14 → …

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Calderon, H. A., Godinez-Salomon, F., Solorza-Feria, O., Specht, P., & Kisielowski, C. (2014). Atomic resolution characterization of Ni base nanoparticles for energy devices. 1138-1139. Papel presentado en Microscopy and Microanalysis, . https://doi.org/10.1017/S1431927614007429